Galaxy Note 7 bị nổ có thể do thiết kế pin quá mạo hiểm

TTCN – Theo một báo cáo mới, thiết kế pin quá mạo hiểm của Galaxy Note 7 có thể là thủ phạm dẫn đến việc Samsung phải thu hồi và dừng sản xuất siêu phẩm này do bị cháy nổ.

Theo Phone Arena trích dẫn báo cáo của một nhóm kỹ sư phần cứng có uy tín, cách cell pin được thiết kế, một cặp lớp polymer được thấm thuốc điện giải (electrolyte) để tách lớp dương lithium cobalt oxide – LiCoO 2 và một lớp âm than chì (graphite) là chứa nhiều rủi ro. Nếu 2 lớp âm dương trên chạm vào nhau, các chất điện giải sẽ bị nóng và dễ gây cháy nổ.

dien-thoaiNhóm kỹ sư phần cứng Mỹ có tên Instrumential đã “phẫu thuật” Note 7 và cho rằng thiết kế pin (như trong ảnh) là nguyên nhân dẫn đến Galaxy Note 7 dễ phát nổ.

Báo cáo chỉ ra rằng việc nén pin sẽ khiến cho lớp âm và dương bị ép lại với nhau. Chính Samsung từng cho biết họ có thể đã quá mạo hiểm với thiết kế này. Thêm vào đó, cấu tạo mỏng này sẽ làm cho pin dễ bị phồng do áp lực lên pin gây ra (một số trường hợp do lực tác động xuyên qua vỏ máy như người dùng đút máy vào túi quần sau rồi ngồi xuống).

Để làm cho chiếc điện thoại mỏng hơn, pin được thiết kế thu gọn nhất có thể, trong khi vẫn phải lưu trữ được dung lượng cao. Báo cáo nhấn mạnh rằng nếu chiếc Note 7 không bị thu hồi thì thân của máy dùng một thời gian có lẽ sẽ bị tách rời.
Kiều Nga
Theo Vnreview
Loading Facebook Comments ...

Trả lời

Email của bạn sẽ không được hiển thị công khai. Các trường bắt buộc được đánh dấu *